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X熒光光譜儀
 產品簡介
產品簡介
                  product
產品分類X熒光光譜儀 型號;DP-EDX600
DP- EDX600貴金屬檢測儀使用效而實用的正比計數盒探測器,以實在的價格定位,滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求,且新的更具有現代感的外形、結構及色彩,使儀器操作更人性化、更方便。
性能特點
專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
貴金屬檢測軟件,與儀器硬件相得益彰。
意多個可選擇的分析和識別模型。
相互立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序。
標
元素分析范圍:從鉀(K)到鈾(U)。
測量對象:固體、液體、粉末
分析檢出限可達:1ppm。
分析含量般為:1ppm到99.9%。
多次測量重復性可達:0.1%。
長期作穩定性為:0.1%。
標準配置
單樣品腔。
正比計數盒探測器。
信號檢測電子電路。
低壓電源。
X光管。
應用域
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。
金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬和飾行業;銀行,飾銷售和檢測機構;電鍍行業。
2.

傅立葉紅外光譜儀/紅外光譜儀/光譜儀 型號:DP-FTIR-650