為解決太陽能單晶、多晶少子壽命測量，特按照標GB/T1553及SEMI MF-1535用頻光電導法研制出了數字式少子壽命測試儀。

產品型號：DP-LT-100C

更新時間：2016-09-30

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專用儀器儀表

爆速儀指示器羅盤儀消化爐電泳槽光澤度儀電極計算器混勻儀強度計壓力表透光儀開關電鹽浴定硫儀測振儀振蕩儀光通量計干燥機摩擦儀柱塞泵功率計測速儀檢驗儀粘度計應變計監視儀成型器恒溫器加熱板熱量計測量表容重器評選儀擴音器電泳儀凈化空氣溫濕度色差儀變壓器讀數儀鋼瓶報警器乳化機煙度計制樣機探測器曲率儀轉速表應力儀光率儀直角規藍烘箱雞蛋切割機點火器純水器計時器篩分機振動計老化箱離心機膨脹儀提取器煙溫計原油脫水儀控制器過濾器平磨儀裝置粗糙度儀封口機坡口機點膠機水分儀驗粉篩測汞儀滅菌器鹽度計回彈儀定位儀拉力機磁導率儀焊機水平儀勻膠機系統一體機頻率計探傷儀傾角儀測距儀監測儀校準儀變送器葉面積聲級計滴定儀量熱儀純水機極譜儀高斯計濾失儀水浴槽空壓機恒速器壓力計粉質儀拉伸儀蟲情測報燈記錄儀傳感器硬度計定氮儀指數儀發生裝置比色儀加熱器試劑超聲波破碎儀薄層色譜攪拌儀偏差儀計數器液位計密度計搖床彎角規吹泡儀萃取儀培養箱均質器白度儀真空計張力儀經緯儀檢測儀制冰機在線鈉離子檢測儀超聲波清洗機流速儀分析儀四探針測試儀測定儀

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數字式硅晶體少子壽命測試儀型號：DP-LT-100C

為解決太陽能單晶、多晶少子壽命測量，特按照標GB/T1553及SEMI MF-1535用頻光電導法研制出了數字式少子壽命測試儀。

該設備是按照家標準GB/T1553“硅單晶少數載流子壽命測定的頻光電導衰減法”。頻光電導衰減法在我半導體集成電路、晶體管、整流器件、核探測器行業已運用了三十多年，積累了豐富的使用經驗，經過數次十多個單位巡回測試的考驗，證明是種成熟可靠的測試方法，特別適合于硅塊、硅棒研磨面的少子體壽命測量；也可對硅片行測量，給出相對壽命值。方法本身對樣品表面的要求為研磨面，制樣簡便。

DP-LT-100C數字式硅晶體少子壽命測試儀有以下特點：

1、可測量太陽能級多晶硅塊、單晶硅棒少數載流子體壽命。表面無需拋光，直接對切割面或研磨面行測量。同時可測量多晶硅檢驗棒及集成電路、整流器、晶體管級硅單晶的少子壽命。

2、可測量太陽能級單晶及多晶硅片少數載流子的相對壽命，表面無需拋光、鈍化。

3、配備軟件的數字示波器，液晶屏上直接顯示少子壽命值，同時顯示動態光電導衰退波形，并可聯用打印機及計算機。

4、配置兩種波長的紅外光源：

a、紅外光源，光穿透硅晶體深度較深≥500μm，有利于準確測量晶體少數載流子體壽命。

b、短波長紅外脈沖激光器，光穿透硅晶體深度較淺≈30μm，但光強較強，有利于測量低阻太陽能級硅晶體。

5、測量范圍寬廣

測試儀可直接測量：

a、研磨或切割面：電阻率≥0.3Ω•㎝的單晶硅棒、定向結晶多晶硅塊少子體壽命，切割片的少子相對壽命。

b、拋光面：電阻率在0.3～0.01Ω•㎝范圍內的硅單晶、鍺單晶拋光片。

壽命可測范圍 0.25μS—10ms

溫濕度計

商品名稱：數字式干濕溫度測試儀/干濕溫度測試儀/數字式干濕溫度檢測儀/數字式干濕溫度測定儀
商品型號：DP-JTR15

數字式干濕溫度測試儀/干濕溫度測試儀/數字式干濕溫度檢測儀/數字式干濕溫度測定儀 型號：DP-JTR15

數字式干濕溫度測試儀/干濕溫度測試儀/數字式干濕溫度檢測儀/數字式干濕溫度測定儀說明：
DP-JTR15干濕溫度測試儀是我公司自主開發的度溫度測試儀器，可同時測試自然濕溫度及空氣溫度。
應用域：勞動場所監測、公共場所在線測試、環境溫度監測、建筑節能、教學實驗
數字式干濕溫度測試儀/干濕溫度測試儀/數字式干濕溫度檢測儀/數字式干濕溫度測定儀特點：
1、可同時測試自然濕溫度和空氣溫度
2、各通道同步采集、自動存儲傳感器
3、支架可安裝在常用三腳架上，解決了現場測試的放置問題
4、不銹鋼金屬封裝溫度傳感器，測試穩定
5、傳感器采用標準插頭形式，連接簡單
6、軟件依據相關標準具有自動統計能
數字式干濕溫度測試儀/干濕溫度測試儀/數字式干濕溫度檢測儀/數字式干濕溫度測定儀參數：
1、測量范圍：-20～85℃
2、測量度：±0.5℃（常溫可達±0.2℃）
3、溫度分辨率：0.1℃
4、響應時間：<2S
5、存儲時間間隔：1—255分鐘
6、數據存儲量：2000組
7、通訊接口：迷你USB
8、電源：標準9V電池