雙棱鏡光干涉實驗儀光干涉實驗儀型號：DP-SGS-II

1826年法科學家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將束相干光的波前分成兩分，形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距(毫米量級),求得光的波長(納米量級)。此光干涉實驗的物理思想、實驗方法與測量巧,具有很深的教學價值。

產品型號：DP-SGS-II

更新時間：2017-10-27

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雙棱鏡光干涉實驗儀光干涉實驗儀型號：DP-SGS-II

1826年法科學家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將束相干光的波前分成兩分，形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距(毫米量級),求得光的波長(納米量級)。此光干涉實驗的物理思想、實驗方法與測量巧,具有很深的教學價值。
儀器特點：
● 導軌和轉盤采用強度優質鋁合金材料、燕尾槽結構、轉盤靈活、不會生銹、經久耐用。
參數：
● 導軌：長80.0cm，分度值1mm；

● 滑塊5只，其中1個滑塊上帶轉動裝置；

● 帶轉盤的狹縫，縫寬0.03-0.04mm；
● 測微目鏡和支架，測微目鏡量程0-8mm，分度值0.01mm；

● 光源：半導體激光器，光波長650.0nm，作電壓直流3V。
實驗內容：
● 觀察雙棱鏡的干涉現象；
● 測量激光器的波長。
（注：鈉光燈及電源選配）。

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